最新消息

首页 > 最新消息 > 返回前页

快克智能:公司的AOI设备可检测芯片偏移、金线键合缺陷等关键质量问题

时间:2026年02月12日 18:09

证券日报网讯 2月12日,快克智能在互动平台回答投资者提问时表示,在光模块领域,公司的AOI设备可检测芯片偏移、金线键合缺陷等关键质量问题,可应用于COC、COB工艺场景,目前设备处于积极推广阶段。

(文章来源:证券日报)

查看更多董秘问答>>

[返回前页] [关闭本页]